Materialanalyse (RFA)
Die Röntgenfluoreszenzanalyse, kurz RFA (Englisch: XRF) genannt, ist ein zerstörungsfreies Verfahren zur Bestimmung der elementaren Zusammensetzung einer Materialprobe.
Im Röntgenfluoreszenzspektrum lassen sich die Anteile der einzelnen Elemente exakt so bestimmen, dass sowohl ein Nachweis unzulässiger Substanzen möglich wird, als auch die Überprüfung einer spezifizierten Materialzusammensetzung.
In Bezug auf die Prüfung von Halbleiterbauelementen werden vor allem die Materialien von Gehäuse und Bauteilanschlüssen auf Substanzen in Konzentrationen geprüft, die gemäß der RoHS-Richtlinie in der EU nicht zulässig sind.
Speziell bei Bauteilanschlüssen betrifft dies beispielsweise die Elemente Blei, Cadmium, Quecksilber und sechswertiges Chrom. Verstöße gegen die RoHS-Richtlinien haben empfindliche Geldbußen zur Folge, da der Inverkehrbringer in der EU für sämtliche Folgeschäden haftet.
Die RFA der Kontaktierungselemente hat bei der Originalitätsprüfung zusätzlich die Funktion, die Gefügebestandteile mit den Datenblattangaben und/oder mit den Werten eines Referenzbauteils abzugleichen. Auch hier kann Blei ein Indikator für Fälschungen sein, wenn frühere bleihaltige Beschichtungen nicht vollständig entfernt wurden, oder bei der Nachverzinnung bleihaltiges Lot aufgrund der einfacheren Verarbeitbarkeit verwendet wurde.
