Sie fragen sich, ob wir Ihr Bauteil testen können und welches Testverfahren dafür nötig ist?
Wir übernehmen für Sie alle notwendigen Schritte. Zugeschnitten auf Ihre Anfrage legen wir die Analysemethoden fest und teilen Ihnen die damit verbundenen Kosten mit. Nach Ihrem Go erhalten Sie innerhalb von sieben Werktagen den Analysereport mit eindeutigem Ergebnis.
Hier finden Sie eine Übersicht unserer gängigsten Produktkategorien mit den anwendbaren Analysemethoden.
Integrierte Schaltkreise (ICs)
Bauteile mit einem oder mehreren integrierten Chips (Dies). Mikrocontroller, Mikroprozessoren, Speicher, ASICs, DSPs, A/D-Wandler, FPGAs etc.
Dioden
Zenerdioden, Diac, Thyristoren, LED, Photodioden, Laserdioden etc.
Kapazitäten (C)
Kondensatoren, MLCC, Elko, Superkondensatoren, SuperCap, EDLC etc.
Widerstände (R)
Potentiometer, Präzisionswiderstände, Photowiderstände, NTC, PCT, Varistoren etc.
Transistoren
MOSFET, IGBT, Triac, Bipolartransistoren, FET, Optokoppler etc.
Induktivitäten
Spulen, Übertrager, Drosseln, Transformatoren, Luftspulen, Elektromagnete etc.
Schaltelemente
Relais, SSR, Schütze, Halbleiterrelais, Schalter, Taster, Reedrelais, Reedkontakte etc.
Stromversorgungen
Batterien, Akkus, Power Supply, Netzteile, PSU, Schaltnetzteile etc.
Schadenanalysen
Ermittlung der Ursache defekter Bauteile und Baugruppen
Feststellung der Fehlerursache, Analysemethoden gemäß betroffener Bauteile.
Unser Job.
Ihre Sicherheit.
Sie wollen ein Bauteil testen lassen?
Rufen Sie uns an: 08756/896 300-0
